咨询热线
HOTLINE

0755-83047534

0755-83046375

新闻
资讯
让您了解最新动态
 
新闻资讯 News
News 行业新闻
一. 折射和折射率 光线在均匀的各向同性介质中,两点之间以直线传播,当通过不同密度介质的透明物体时,则发生折射现像,这是由于光在不同介质的传播速度不同造成的。当与透明物面不垂直的光线由空气射入透明物体(如玻璃)时,光线在其介面改变了方向,并和法线构成折射角。 二. 透镜的性能 透镜是组成显微镜光学系统的最基本的光学元件,物镜、目镜及聚光镜等部件均由单个和多个透镜组成。依其外形的不同,可分为凸透镜(正透镜)和凹透镜(负透镜)两大类。 当一束平行于光轴的光线通过凸透镜后相交于一点,这个点称“焦点”,通过交点并垂直光轴的平面,称“焦平面”。焦点有两个,在物方空 间的焦点,称“物方焦点”,该处的焦平面,称“物方焦平面”;反之,在像方空间的焦点,称“像方焦点”,该处的焦平面,称“像方焦平面”。 光线通过凹透镜后,成正立虚像,而凸透镜则成正立实像。实像可在屏幕上显现出来,而虚像不能。  三. 影响成像的关键因素—像差 由于客观条件,任何光学系统都不能生成理论上理想的像,各种像差的存在影响了成像质量。下面分别简要介绍各种像差。 1. 色差(Chromatic aberration) 色差是透镜成像的一个严重缺陷,发生在多色光为光源的情况下,单色光不产生色差。白光由红 橙 黄 绿 青 蓝 ...
发布时间: 2019 - 04 - 13
浏览次数:11
在镜检时,人们总是希望能得到清晰而明亮的理想图像,这就需要显微镜的各项光学技术参数达到一定的标准,并且要求在使用时,必须根据镜检的目的和实际情况来协调各参数的关系。只有这样,才能充分发挥显微镜应有的性能,得到满意的镜检效果。 显微镜的光学技术参数包括:数值孔径、分辨率、放大率、焦深、视场宽度、覆盖差、工作距离等等。这些参数并不都是越高越好,它们之间是相互联系又相互制约的,在使用时,应根据镜检的目的和实际情况来协调参数间的关系。 一. 数值孔径 数值孔径简写NA,数值孔径是物镜和聚光镜的主要技术参数,是判断两者(尤其对物镜而言)性能高低的重要标志。其数值的大小,分别标在物镜和聚光镜的外壳上。 数值孔径(NA)是物镜前透镜与被检物体之间介质的折射率(η)和孔径角(u)半数的正玄之乘积。用公式表示如下:NA=ηsinu/2 孔径角又称“镜口角”,是物镜光轴上的物体点与物镜前透镜的有效直径所形成的角度。孔径角越大,进入物镜的光通亮就越大,它与物镜的有效直径成正比,与焦点的距离成反比。 显微镜观察时,若想增大NA值,孔径角是无法增大的,唯一的办法是增大介质的折射率η值。基于这一原理,就产生了水浸系物镜和油浸物镜,因介质的折射率η值大于一,NA值就能大于一。数值孔径最大值为1.4,这个数值在理论上和技术上都达到了极限。目前,有用折射率高的溴萘作...
发布时间: 2019 - 04 - 13
浏览次数:19
光,改变了过往,孕育着未来。CIOE中国国际光博会,正是一场关于“未来之光”的光电盛宴。9月4日—7日,在深圳会展中心,即将点燃激情!宁波舜宇仪器将携全面的工业检测解决方案亮相展会,为您呈现我们在矿物金相分析、半导体硅晶片检测、精密工程测量等领域的“专业、高效、创新”。 展位:深圳会展中心 9C16展品一览除了以上显微产品,我们还将展出专业配套物镜组,包括高端APO物镜、LCD带校正环物镜等产品配套,全方面展示我司作为行业高端显微镜制造企业的综合实力。9月4日深圳会展中心 9C16我们期待与您相遇
发布时间: 2019 - 08 - 30
浏览次数:66
新型量子点显微镜,能显示单个原子的电势!Julich和Magdeburg大学合作的一组研究人员开发了一种新方法,可以在原子准确度上测量样品的电势。使用传统的方法,直到现在几乎不可能定量地记录在单个分子或原子附近发生的电势。这种新型扫描量子点显微镜方法,由德国福尔申斯中心Julich科学家和另外两家机构的合作伙伴在《自然材料》上发表,可能为芯片制造或DNA等生物分子的表征开辟新机会。所有物质都由正原子核和负电子组成,它们会产生电势场,即使在很短的距离内,它们也会相互叠加和补偿。传统方法不允许对这些小面积场进行定量测量,这些小面积场在纳米尺度上决定了许多材料的性能和功能。几乎所有能够成像这种电位的现有方法都是基于对电荷引起的力的测量。然而,这些力很难与发生在纳米尺度上的其他力区分开来,这阻碍了定量测量。然而,四年前来自福尔松斯琴中心的科学家们发现了一种基于完全不同原理的方法。扫描量子点显微镜是将单个有机分子(量子点)附着在原子力显微镜的顶端,这个分子充当探针。这种分子是如此之小,以至于我们可以用一种可控的方式将原子力显微镜顶端的单个电子附着到分子上。研究人员立即意识到这种方法的前景,并提出了专利申请。然而,实际应用仍有很长的路要走。最初,这只是一个令人惊讶的效果,其适用性有限。现在一切都变了,不仅可以可视化单个原子和分子的电场,还可以精确地量化它们。通过与在卢森堡的合作者进行理论计算的...
发布时间: 2019 - 06 - 17
浏览次数:33
在传统电子显微镜中,对磁性材料进行原子分辨率的观察特别困难,因为高磁场不可避免地施加在磁性物镜内的样品上。新开发的磁物镜系统为样品位置提供了一个无磁场环境。这使得直接,原子分辨率成像的磁性材料,如硅钢。这种新型电子显微镜有望广泛应用于先进磁性材料的研究和开发。在日本科学技术厅JST-SENTAN项目下,东京大学Shibata Naoya教授和JEOL Ltd:联合开发团队开发了一种革命性的电子显微镜,新型电子显微镜结合了新设计的磁性物镜,实现了对材料的亚空间分辨率直接原子分辨率成像,在试样位置处残余磁场小于0.2 mT。据我们所知,这是第一次实现这一目标。自1931年透射电子显微镜(TEM)开创性发明以来的88年里,研究人员一直在追求更好的空间分辨率。设计小透镜像差系数的磁性物镜是必要的。用于扫描TEM (STEM)像差校正透镜系统已达到亚空间分辨率。目前用于原子分辨率TEMs/ stem磁凝物镜系统的一个关键缺点是,样品必须插入高达2-3 t非常高的磁场中。如此高的磁场会严重阻碍许多重要的软硬磁性材料原子分辨率成像,比如硅钢,因为强磁场会极大地改变甚至破坏材料的磁性,有时甚至是物理结构。近年来,新型磁性材料的发展迅速。由于原子尺度结构分析是上述技术的关键,长期以来一直需要解决这一问题。联合研究小组已经开发出一种新的无磁场物镜系统,其中包括两个圆形物镜,它们的位置与样品平面镜像对称...
发布时间: 2019 - 06 - 17
浏览次数:21
快讯 | SOPTOP让教育更添“智慧”——2019浙江省智慧教育装备博览会圆满落幕舜宇SOPTOP显微系统 5月22日,2019浙江省智慧教育装备博览会在德清国际会议中心盛大开幕,此次展会是由浙江省教育装备行业协会智慧教育分会(浙江省智慧教育联盟)、浙江师范大学智慧教育研究院主办。▲ 展会现场SOPTOP展位随着“互联网+”新时代的到来,教育的模式和成果越来越受到全世界的关注。此次,SOPTOP携高端产品参加此次展会,助力浙江省教育事业发展。▲ 多位观展者向SOPTOP工作人员咨询新时代赋予教育信息化新的使命,也必然带动教育信息化从1.0时代进入2.0时代。展会期间,我们与众多来自基础教育部门的专家、老师分享交流,共同探讨形态科学应用领域的发展与未来。如今,SOPTOP系列教学显微镜、数码互动教室等产品在国内教育市场也得到了广泛地应用,为教学、科研提供了极大地便利,也得到了大家的一致认可。未来,我们也将继续注重技术创新,响应教育信息化行动计划,开发出更适合中国教育市场的产品,为教育行业的用户提供可靠的产品和优质的服务,让教育更添“智慧”。
发布时间: 2019 - 05 - 24
浏览次数:38
深圳市龙华区民治街道民宝路4号街道南源商业大厦东座902
电话: 86 0755-8304 7534
传真:+86 0755-2788 8009
邮编:330520
Copyright ©2018 - 2021 深圳市润兴光学仪器有限公司
犀牛云提供企业云服务