基础款金相显微镜，可满足常规的金相分析、材料观察、半导体芯片检测等全新的色差校正光学系统国际流行的新颖镜体设计分辨率和图像质量更佳
基础款金相显微镜，可满足常规的金相分析、材料观察、半导体芯片检测等全新的色差校正光学系统国际流行的新颖镜体设计分辨率和图像质量更佳
CX40M作为改良型金相显微镜，整合了舜宇销量机型XYM、MX4R及最新研发的RX50M研究级金相显微镜的多项技术优势，并根据市场需求重新优化配置整体性能。优异的成像性能、舒适的操作体验，为客户提供高性价比的金相分析及工业检测解决方案。
CX40M作为改良型金相显微镜，整合了舜宇销量机型XYM、MX4R及最新研发的RX50M研究级金相显微镜的多项技术优势，并根据市场需求重新优化配置整体性能。优异的成像性能、舒适的操作体验，为客户提供高性价比的金相分析及工业检测解决方案。
灵活的系统组合、卓越的成像性能、稳定的系统结构，MX6R系列专业应用于工业检测及金相分析领域各操作机构根据人机工程学设计，最大限度减轻使用疲劳。模块化的部件设计，可对系统功能进行自由组合。 集成了明场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能，可根据实际应用，进行功能选择。
MX8R 集成了明场、暗场、偏光、DIC 等多种观察功能。 广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件金属陶瓷部件、精密磨具等检测。
全新的MX12R半导体 \FPD 检查显微镜，最大支持 300mm 晶圆及 17英寸液晶面板的检查，含 4、6、8、12英寸多种转盘，可适用不同尺寸的晶圆检查。人机工程学设计全面提升，为用户提供更加舒适、灵活、快捷的操作体验。
全新RX50M 研究级金相显微镜集舜宇多项首创于一身，从外观到性能都紧跟国际领先设计风向，致力于拓展工业领域全新格局。RX50M 秉承舜宇不断探索不断超越的品牌设计理念，为客户提供完善的工业检测解决方案。